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第一种:环状伪影 1、产生环状伪影的原因: ①探测器损坏:探测器的某一个或某些损坏或探测效率降低; ②积分电路损坏:某个或某些通道的积分电路损坏; ③X线管辐射输出降低:射线量不足导致剂量降低; ④X线管位置或准直器的调整不佳:也会造成剂量的不足; ⑤探测器受潮:导致探测器的性能差异变大; ⑥软件损坏:校正参数表破坏; ⑦电网电压不稳或内阻过大导致剂量不稳,极可能产生环状伪影。 2、检测及分析处理: ①判断X线管辐射能力的降低是产生环状伪影的重要原因之一。此时X线管的辐射性能不稳定,时高时低。因此应当判断环状伪影是否由X线管引起。但是X线管一般来说不会发生突变,这一点是应当注意的; ②判断探测器:某个探测器损坏会引起一个圆圈状的伪影。早期的CT采用的闪烁晶体容易受潮。当探测器受潮后也会引起环状伪影。但是和单个探测器损坏相比它们产生的伪影是不同的。探测器受潮引起的环状伪影不会是单个圆圈; ③判断积分电路:积分电路的损坏可能是单一的也可能是一组。积分电路最容易损坏的是电路板上的滤波电容。但是滤波电容的损坏常常不只是影响一组通道; ④调整问题:X线管和准直器的调整不佳导致球管发出来的X线不能全部穿透人体到达探测器,这种情况下表现的是辐射剂量不足。在检查探测器和积分板没有明显的损坏的情况下,有可能是球管和准直器调整不佳产生的伪影。需要重新进行调整; ⑤检查定位相:通过定位相可以判断通道和探测器的损坏,此时会出现平行于轴向的竖线; ⑥高压不稳会引起剂量脉冲的不稳也会导致环状伪影的产生。应当检查电网电压,特别是在曝光的过程中应当监视电网波动情况; ⑦环状伪影一般机器不会报错。 第二种:条状伪影 1、条状伪影产生的原因: ①同步脉冲短缺:条状伪影往往是缺少同步脉冲引起的; ②滑环接触不良会导致信息的丢失; ③数据传输时发送与接受不可靠引起数据丢失; ④电网电压不稳引起电压脉冲的不稳导致剂量脉冲不稳。 2、检测与分析处理: ①检查AP脉冲网; ②利用软件测试旋转稳定性; ③检查同步信号传送通道及信号状态; ④检查滑环并清理积存的碳粉; ⑤检查数据传送通道; ⑥检查电网电压。 第三种:网格状伪影 1、网格状伪影产生的原因:探测器与积分电路的连接不良。 2、检测与分析处理: ①检查探测器与积分电路的连接状况; ②进行DAS系统的偏置与噪音测试。 | |
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